廣州智品匯電子科技針對(duì)電容長(zhǎng)周期測(cè)試痛點(diǎn)，響應(yīng)高端電子元器件全生命周期檢測(cè)趨勢(shì)，推出ZH-CBE9800E 電容耐久性測(cè)試臺(tái)，破解傳統(tǒng)設(shè)備無(wú)斷電記憶、意外停機(jī)需重新測(cè)試、耗時(shí)耗力的痛點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)周期試驗(yàn)精準(zhǔn)續(xù)測(cè)。

　　本款ZH-CBE9800E 電容耐久性測(cè)試臺(tái)連續(xù)耐久模式下試驗(yàn)時(shí)間 0.1～9999.9 小時(shí)可調(diào)，具備斷電記憶功能，記憶精度 ±0.2%，時(shí)間控制精度 ±(0?1%+1min)，意外斷電后恢復(fù)供電可精準(zhǔn)續(xù)測(cè)，無(wú)需重新開始，保障長(zhǎng)周期試驗(yàn)效率。

　　產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)測(cè)試性能遵循 IEC60252.2-2011、GB12747-1991 標(biāo)準(zhǔn)，時(shí)間精度、斷電記憶均符合標(biāo)準(zhǔn)中電容長(zhǎng)周期耐久性測(cè)試的技術(shù)規(guī)范，契合電子元器件全生命周期檢測(cè)需求。廣州智品匯電子科技以斷電記憶設(shè)計(jì)，讓長(zhǎng)時(shí)測(cè)試更省心、更精準(zhǔn)。