電機(jī)由常溫(其各部分溫度與環(huán)境溫度相同)開(kāi)始運(yùn)行,溫度不斷升高,當(dāng)其高出環(huán)境溫度后,一方面繼續(xù)吸收熱量緩慢升溫。另一方面開(kāi)始向周?chē)l(fā)熱量。當(dāng)電機(jī)處于熱量平衡裝態(tài),溫度不再升高時(shí),電機(jī)的溫度與環(huán)境溫度之差稱(chēng)之為電機(jī)溫升。既:溫升=電機(jī)溫度-環(huán)境溫度; 用K為單位。此外,電機(jī)中絕緣材料的壽命與運(yùn)行溫度有密切的關(guān)系,為確保電機(jī)的安全、合理使用,需要監(jiān)視與測(cè)量電機(jī)的繞組、鐵芯等其他部分的溫度;按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,不同的絕緣等級(jí)的電機(jī)繞組有不同的允許溫升,如下表所示:
絕緣等級(jí) | 絕緣結(jié)構(gòu)需用溫度 | 環(huán)境溫度 | 熱點(diǎn)溫度 | 溫升限制 |
A | 105℃ | 40℃ | 5℃ | 60K |
E | 120℃ | 40℃ | 5℃ | 75K |
B | 130℃ | 40℃ | 10℃ | 80K |
F | 155℃ | 40℃ | 10℃ | 105K |
H | 180℃ | 40℃ | 15℃ | 125K |

若超過(guò)規(guī)定值,如E級(jí)絕緣的電機(jī),溫升每增加5℃,電機(jī)的壽命將降低一半。因此電機(jī)的溫度溫升試驗(yàn)對(duì)改進(jìn)電機(jī)的設(shè)計(jì)和制造工藝有著重大的影響,同時(shí)對(duì)提高電機(jī)的品質(zhì)起到?jīng)Q定性的作用。
那么電機(jī)的溫度溫升該怎么測(cè)試呢?常用的有三種方法,電阻法、溫度計(jì)法、埋置檢溫計(jì)法。后面的兩種方法,都需要用到多路溫度測(cè)試儀來(lái)采集電機(jī)表面和電機(jī)內(nèi)部的溫度。此外這兩種方法對(duì)交流電機(jī)有一定的局限性。對(duì)儀器本身有一定的要求,多路溫度測(cè)試儀最好能帶電測(cè)試,以防測(cè)試過(guò)程中漏電爾損壞儀器,市面上能做到帶電測(cè)試的溫度儀比較少,TWC-2A和TWC-2C多路溫度測(cè)試儀這兩款儀器可以做到帶電測(cè)試,可以解決一部分的問(wèn)題。
溫度溫升測(cè)試采集的數(shù)據(jù)需要進(jìn)行二次處理和分析,總的過(guò)程都需要人為操作進(jìn)行。相比溫度計(jì)法和埋置檢溫計(jì)法,電阻法有一定的優(yōu)越性,電阻法通過(guò)采集電機(jī)在試驗(yàn)前后的冷態(tài)和熱態(tài)電阻,根據(jù)溫升公式直接得出溫升。那么問(wèn)題來(lái)了,如果是這樣跟溫度計(jì)法、埋置檢溫計(jì)法不是同樣需要更多的人工計(jì)算,不是一樣么?這里就需要一個(gè)測(cè)試的儀器,RXDC-3C帶電繞組溫升測(cè)試儀,這款儀器接好線之后,可以直接在儀器的觸摸屏上讀出電機(jī)的冷態(tài)電阻,同時(shí)也可以在屏幕上顯示出測(cè)試前的環(huán)境溫度T0;此外在電機(jī)通電過(guò)程中,可以自動(dòng)采集電機(jī)的熱態(tài)電阻并通過(guò)儀器的CPU自動(dòng)算出電機(jī)的溫升。與此同時(shí)能通過(guò)RS232與電腦通訊,保存測(cè)試過(guò)程中的數(shù)據(jù)。這樣的方法能減少更多的測(cè)試人工,同時(shí)更科學(xué)的測(cè)試出電機(jī)的溫度溫升。
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